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EA-160是一款全自动非接触式表表丈量仪。利用光谱共焦道理,EA-160可用于膜厚线宽丈量、微观尺寸丈量、高度差丈量、平面度丈量、共面度丈量、粗糙度丈量等,也可对通明半通明材质进行多层尺寸丈量。高精度、高速丈量,结合壮大易用的软件,EA-160膜厚测试仪被宽泛利用于微电子、半导体、5G、3D玻璃、新型医疗、精密工业造作等领域。
EA-160是一款全自动非接触式表表丈量仪。利用光谱共焦道理,EA-160可用于膜厚线宽丈量、微观尺寸丈量、高度差丈量、平面度丈量、共面度丈量、粗糙度丈量等,也可对通明半通明材质进行多层尺寸丈量。高精度、高速丈量,结合壮大易用的软件,EA-160膜厚测试仪被宽泛利用于微电子、半导体、5G、3D玻璃、新型医疗、精密工业造作等领域。
利用领域:
HTCC膜厚线宽丈量、LTCC膜厚线宽丈量、SOFC印刷厚度测试、厚膜电路丈量、晶圆涂胶丈量、MEMS丈量、SENSOR丈量、太阳能硅片丈量、芯片描摹丈量、通明材质丈量、环氧树脂丈量、印刷图形丈量、激光镭雕丈量、Wafer槽深丈量、断差丈量、Lens丈量、油墨厚度丈量、蓝宝石厚度丈量、曲面镜片丈量
特点:
高速度、高精度自动丈量系统
最大160mm*160mm 领域丈量
通明材质穿透丈量
丈量膜厚、线宽、平面度等
多法式自由切换,方便矫捷
根基参数:
设备品名 | 全自动非接触膜厚测试仪 |
设备型号 | EA-160 |
XY丈量行程 | 160*160mm |
Z轴可调行程 | 50mm |
扫描最幼步距 | 1um |
最大扫描速度 | 30mm/s |
陶瓷检测沉复精度 | ±0.5μm |
Z向分辨率 | 1nm |
横线分辨率 | 0.1um |
光栅尺分辨率 | 0.01um |
量程 | 1200um |
测试方式 | 可编程自动丈量 |
MARK类型 | 圆形、方形、十字、菱形、多边形、不规定图形 |
载物平台 | 微孔陶瓷真空吸附平台 |
膜厚测试 | 支持 |
线宽测试 | 支持 |
粗糙度测试 | 支持 |
通明资料自动测厚 | 支持 |
孔深、刻槽深度测试 | 支持 |
丈量道理 | 光谱共焦 |
CCD视觉 | 500万 |
红表激光对准器 | 标配 |
数据输出 | Excel、CSV体式、JPG体式 |
数据分析 | CPK |
数据统计 | 均匀值,最大值,最幼值,极差,尺度差,CP,CPK,良率,总数 |
数据接口 | 串口和谈、网口和谈 |
接口类型 | RS485、RS232、RJ45 |
数据存储 | 存储地位肆意指定 |
数据回测 | 肆意节点数据回测 |
MES信息化系统 | 支持 |
设备日志 | 具备 |
操作系统 | WIN10 |
校验尺度块规 | 标配 |
三角块规 | 标配 |
表观尺寸 | 950*650*500mm |
电源 | AC220V±10%,50-60Hz |
气源压缩空气 | 0.3~0.7Mpa或真空气源 |
沉量 | 250KG |
工控主机 | 内存8G、固态硬盘480G、显示器23.8“、分辨率1920*1080,高速千兆网口PCI*2 |
